A Local Stress Analysis Technology for ULSIs using a Micro Focused X-ray Spectrometer and a Computer Simulation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Bulletin of the Japan Institute of Metals 1990/04/20, Vol.29(4), pp.256-258
Hauptverfasser: Yamamoto, N., Sakata, S., Hosokawa, Y., Takano, Y.
Format: Artikel
Sprache:jpn
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4426
1884-5835
DOI:10.2320/materia1962.29.256