Dynamic Release Control Policy for the Semiconductor Wafer Fabrication Lines

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	The Journal of the Operational Research Society 1996-12, Vol.47 (12), p.1516
Hauptverfasser:	Kim, Jongsoo, Leachman, Robert C., Suh, Byungkyoo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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