Two-Sided Prediction Intervals to Contain at Least k out of m Future Observations from a Normal Distribution

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Technometrics 1990-05, Vol.32 (2), p.203
1. Verfasser:	Odeh, Robert E.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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