Capturing Performance Limiting Effects in Tunnel-FETs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Composants nanoélectroniques 2018-02, Vol.18 (1)
Hauptverfasser:	Graef, Michael, Hosenfeld, Fabian, Horst, Fabian, Farokhnejad, Atieh, Iñíguez, Benjamín, Kloes, Alexander
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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