EFFET DE LENERGIE DIRRADIATION SUR LA RESISTANCE SERIE DANS UNE PHOTOPILE (N+/P/P+) AU SILICIUM A JONCTIONS VERTICALES SERIES

Les parametres phenomelogiques dans la photopile (n+/p/p+) au silicium a jonctions verticales series, sous eclairement, sont utilises pour extraire la resistance serie, pour chaque dose dirradiation appliquee. Lequation de diffusion des porteurs minoritaires de charge electriques dans la base (p) es...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of advanced research (Indore) 2021-11, Vol.9 (11), p.985-997
Hauptverfasser: DIA, Oumar, Lamine BA, Mamadou, DIOP, Gora, DIATTA, Ibrahima, SARR, Mor, WADE, Mamadou, SISSOKO, Gregoire
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Les parametres phenomelogiques dans la photopile (n+/p/p+) au silicium a jonctions verticales series, sous eclairement, sont utilises pour extraire la resistance serie, pour chaque dose dirradiation appliquee. Lequation de diffusion des porteurs minoritaires de charge electriques dans la base (p) est influencee par le flux et lintensite de lirradiation par des particules chargees. Sa resolution conduit a la densite de courant de charges electriques et la phototension, qui permettent detablir la caracteristique Jph-Vph, pour chaque dose dirradiation. Le modele electrique equivalent a la photopile, en fonctionnement de circuit ouvert, permet de deduire la resistance serie pour chaque epaisseur de base(p) optimisee et chaque dose dirradiation.
ISSN:2320-5407
2320-5407
DOI:10.21474/IJAR01/13832