$Reinvestigation of crystallographic data and X-ray diffraction data of silicon carbide for polytype identification purposes$

Reinvestigation of crystallographic data and X-ray diffraction data of silicon carbide for polytype identification purposes

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Bunseki kagaku 1993, Vol.42 (8), p.445-459
Hauptverfasser:	ITO, J, IWATSUKI, M, FUKASAWA, T
Format:	Artikel
Sprache:	eng ; jpn
Online-Zugang:	Volltext
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