On the Application of a Transistor Square 3-line Matrix for Redundancy in Digital Nano- and Microintegrated Circuits under Irradiated

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Nano- i mikrosistemnai͡a︡ tekhnika = Journal of "nano and microsystem technique." 2018-09, Vol.20 (9), p.561-575
Hauptverfasser: Aleksandrov, P.A., Zhuk, V.I., Litvinov, V.L.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1813-8586
DOI:10.17587/nmst.20.561-575