Measurement of the Typical Sizes of the Submicron Particles in the Technological Processes by the Method of Light Scattering

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Nano- i mikrosistemnai͡a︡ tekhnika = Journal of "nano and microsystem technique." 2017-07, Vol.19 (7), p.417-422
Hauptverfasser:	Danilaev, M.P., Dorogov, N.V., Kuklin, V.A., Kyrangyshev, A.V., Shilov, N.S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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