NIR technology for non-destructive monitoring of apple quality during storage

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:LogForum (Poznań, Poland) Poland), 2024-01, Vol.20 (1), p.11-21
Hauptverfasser: Włodarska, Katarzyna, Pawlak-Lemańska, Katarzyna, Sikorska, Ewa
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1895-2038
1734-459X
DOI:10.17270/J.LOG.000968