Mechanisms of Dopant Depth Profile Modification During Mass Spectrometric Analysis of Multilayer Structure

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Ukrainian journal of physics (Kiev) 2015-06, Vol.60 (6), p.511-520
Hauptverfasser: Efremov, A.A., Litovchenko, V.G., Melnik, V.P., Oberemok, O.S., Popov, V.G., Romanyuk, B.M.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2071-0186
2071-0194
DOI:10.15407/ujpe60.06.0511