Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor physics, quantum electronics, and optoelectronics quantum electronics, and optoelectronics, 2015-12, Vol.18 (4), p.403-409
1. Verfasser: Bratus, V. Ya
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1560-8034
1605-6582
DOI:10.15407/spqeo18.04.403