Application of Digital Analog of Increase of Resolving Power of the X-Ray Diffraction Equipment for Characterization of an Imperfect State of Crystalline Materials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Metallofizika i noveĭshie tekhnologii 2018-12, Vol.40 (9), p.1149-1164
Hauptverfasser: Rozhenko, N. M., Grigoriev, O. M., Kartuzov, V. V.
Format: Artikel
Sprache:eng ; ukr
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1024-1809
1024-1809
DOI:10.15407/mfint.40.09.1149