Trends bei der Entwicklung von Normalen für die Mikro- und Nanomesstechnik: Herausforderungen und Lösungsansätze (Trends in Development of Standards for Micro- and Nanometrology: Chances and Challenges)

Im Bereich der Mikrometer- und Nanometer-Messtechnik werden immer neue Normale benötigt und bereitgestellt. Bei deren Design, Herstellung und Einsatz werden zum Teil neue Wege beschritten, um den Anforderungen und Randbedingungen der Mikro- und Nanotechnik gerecht zu werden. Im Folgenden werden dies...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Technisches Messen 2008-05, Vol.75 (5), p.288-297
Hauptverfasser: Weckenmann, Albert, Wiedenhöfer, Thomas, Büttgenbach, Stephanus, Krah, Thomas, Fleischer, Jürgen, Buchholz, Ivesa, Viering, Benjamin, Kranzmann, Axel, Ritter, Martin, Krüger-Sehm, Rolf, Bakucz, Peter, Schmitt, Robert, Koerfer, Friedel
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:Im Bereich der Mikrometer- und Nanometer-Messtechnik werden immer neue Normale benötigt und bereitgestellt. Bei deren Design, Herstellung und Einsatz werden zum Teil neue Wege beschritten, um den Anforderungen und Randbedingungen der Mikro- und Nanotechnik gerecht zu werden. Im Folgenden werden diese Aspekte und Entwicklungen anhand ausgewählter Beispiele verdeutlicht. Micro- and nano-metrology permanently need new standards. New approaches in design, production and application have to be developed, in order to fulfil the requirements and boundary conditions of micro- and nano-technology. In the following selected examples for these developments are presented.
ISSN:0171-8096
2196-7113
DOI:10.1524/teme.2008.0871