Corrigendum to: FAST-EM array tomography: a workflow for multibeam volume electron microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Methods in Microscopy 2025-01, Vol.1 (2), p.177-177
Hauptverfasser:	Kievits, Arent J., Duinkerken, B. H. Peter, Lane, Ryan, de Heus, Cecilia, van Beijeren Bergen en Henegouwen, Daan, Höppener, Tibbe, Wolters, Anouk H. G., Liv, Nalan, Giepmans, Ben N. G., Hoogenboom, Jacob P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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