Depth-resolved X-ray Analysis of Residual Stresses in Graded PVD Coatings of Ti(C,N)

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of materials research 1999-10, Vol.90 (10), p.780-787
Hauptverfasser:	Dümmer, Tobias, Eigenmann, Bernd, Stüber, Michael, Leiste, Harald, Löhe, Detlef, Müller, Hermann, Wöhringer, Otmar
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!