Vergleichende Oberflächenuntersuchungen an der glaskugelgestrahlten Konussteckverbindung des MRP-Titanrevisionsschaftes / Comparative surface examinations of morse taper junctions of the MRPTitan stem shot peened with glas beads

Einleitung: Kugelstrahlverfahren werden bei den unterschiedlichsten Prozessen zur Oberflächenbearbeitung in der Herstellung von Hüftimplantaten verwendet. Das Strahlen mit Stahlkugeln zur Induktion von Eigenspannungen mit nachfolgendem Glasperlstrahlen zur Reinigung ist bei der Fertigung von Titan-Konussteckverbindungen unerlässlich. Publikationen aus der Zahnheilkunde und Orthopädie belegen, dass bei Strahlverfahren Glas bzw. Edelkorund Restpartikel auf der Oberfläche des bearbeiteten Implantates verbleiben. In neuesten Arbeiten werden die Restpartikel in Zusammenhang mit Frühlockerungen im Sinne des Drittkörperverschleißes beschrieben. Ziel dieser Arbeit ist es, das Ausmaß und die Auswirkungen der Glasrückstände auf der Oberfläche am Beispiel der Konussteckverbindung des MRPTitanrevisionsschaftes auf Implantaten und Explantaten systematisch darzustellen. Material und Methode: Es werden jeweils die Oberflächen der Konussteckverbindung von 5 original verpackten mit 5 explantierten MRPTitanrevisionsschäften auf Glaspartikelrückstände analysiert. Die Detektion der Glaspartikelrückstände auf den Implantatoberflächen erfolgte mit Hilfe eines Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (LEO 1525) mit Rückstreuelektronendetektor. Die jeweilige Belegungsdichte wird mittels digitaler Bildauswertung (analySIS, Soft Imaging System GmbH) ermittelt. Ergebnisse: Die Oberfläche war auf den Implantaten durchschnittlich zu 6,67 ± 0,82 % (Mittelwert ± Standardabweichung), auf den Explantaten zu 2,06 ± 0,74 % mit Glaspartikeln behaftet, der Unterschied war statistisch hochsignifikant (p