Solid Phase Epitaxy on Si Surfaces Studied by Scanning Tunneling Microscopy. Surface Analysis without Interference of Background Peaks by a Combined SIMS-ESDMS Technique

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Hyōmen kagaku 1995, Vol.16 (2), p.135-140
Hauptverfasser:	SEKI, Setsuko, SUMIYA, Hiroyuki, TAMURA, Hifumi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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