Characterization of Proton Exchange Layer Profiles in KD 2 PO 4 Crystals by Micro-Raman Spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Applied spectroscopy 2004-03, Vol.58 (3), p.349-351
Hauptverfasser:	Huser, Thomas, Hollars, Christopher W., Siekhaus, Wigbert J., De Yoreo, James J., Suratwala, Tayyab I., Land, Teresa A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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