Low-error and broadband microwave frequency measurement in a silicon chip

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Optica 2015-08, Vol.2 (8), p.751
Hauptverfasser: Pagani, Mattia, Morrison, Blair, Zhang, Yanbing, Casas-Bedoya, Alvaro, Aalto, Timo, Harjanne, Mikko, Kapulainen, Markku, Eggleton, Benjamin J., Marpaung, David
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2334-2536
2334-2536
DOI:10.1364/OPTICA.2.000751