Synchrotron X-ray metrology of dopant distribution and oxidation state in high pressure CVD grown TM 2+ :ZnSe optical fibers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Optical materials express 2021-02, Vol.11 (2), p.289
Hauptverfasser: Coco, Michael G., Aro, Stephen C., Hendrickson, Alexander, Krug, James P., Lai, Barry, Cai, Zhonghou, Sazio, Pier J., McDaniel, Sean A., Cook, Gary, Gopalan, Venkatraman, Badding, John V.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2159-3930
2159-3930
DOI:10.1364/OME.414201