Wide-field high-resolution surface-plasmon interference microscopy

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Veröffentlicht in:Optics letters 2009-10, Vol.34 (20), p.3110-3112
Hauptverfasser: SOMEKH, Michael G, STABLER, Graham, SHUGANG LIU, JING ZHANG, SEE, Chung W
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0146-9592
1539-4794
DOI:10.1364/ol.34.003110