Comparative study of SiO_2, Si_3N_4 and TiO_2 thin films as passivation layers for quantum cascade lasers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Optics express 2016-10, Vol.24 (21), p.24032
Hauptverfasser:	Ferré, Simon, Peinado, Alba, Garcia-Caurel, Enric, Trinité, Virginie, Carras, Mathieu, Ferreira, Robson
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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