Characterization of nanostructured VO_2 thin films grown by magnetron controlled sputtering deposition and post annealing method

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Optics express 2009-12, Vol.17 (26), p.24153
Hauptverfasser:	Chen, Sihai, Lai, Jianjun, Dai, Jun, Ma, Hong, Wang, Hongchen, Yi, Xinjian
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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