Terahertz profilometry at 600 GHz with 05 μm depth resolution

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Optics express 2008-07, Vol.16 (15), p.11289
Hauptverfasser:	Hils, Bernd, Thomson, Mark D., Löffler, Torsten, Spiegel, Wolff von, Weg, Christian am, Roskos, Hartmut G., Maagt, Peter de, Doyle, Dominic, Geckeler, Ralf D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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