Terahertz time-domain spectroscopy characterization of the far-infrared absorption and index of refraction of high-resistivity, float-zone silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Optical Society of America. B, Optical physics Optical physics, 2004-07, Vol.21 (7), p.1379-1386
Hauptverfasser: JIANMING DAI, JIANGQUAN ZHANG, WEILI ZHANG, GRISCHKOWSKY, D
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0740-3224
1520-8540
DOI:10.1364/josab.21.001379