Nonlinear characterization of nanometer-thick dielectric layers by surface plasmon resonance techniques

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Optical Society of America. B, Optical physics Optical physics, 2003-04, Vol.20 (4), p.741
Hauptverfasser: Margheri, Giancarlo, Giorgetti, Emilia, Sottini, Stefano, Toci, Guido
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0740-3224
1520-8540
DOI:10.1364/JOSAB.20.000741