Direct measurement of 248- and 193-nm excimer-induced densification in silica–germania waveguide blanks: comment

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Optical Society of America. B, Optical physics Optical physics, 2002-09, Vol.19 (9), p.2039
Hauptverfasser: Poumellec, Bertrand, Niay, Pierre
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0740-3224
1520-8540
DOI:10.1364/JOSAB.19.002039