Single-particle evanescent light scattering simulations for total internal reflection microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied Optics 2006-10, Vol.45 (28), p.7299
Hauptverfasser: Helden, Laurent, Eremina, Elena, Riefler, Norbert, Hertlein, Christopher, Bechinger, Clemens, Eremin, Yuri, Wriedt, Thomas
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0003-6935
1539-4522
DOI:10.1364/AO.45.007299