Single-particle evanescent light scattering simulations for total internal reflection microscopy
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Veröffentlicht in: | Applied Optics 2006-10, Vol.45 (28), p.7299 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0003-6935 1539-4522 |
DOI: | 10.1364/AO.45.007299 |