Refractive index of thin films of SiO_2, ZrO_2, and HfO_2 as a function of the films’ mass density

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied Optics 2005-05, Vol.44 (15), p.3006
Hauptverfasser: Jerman, Martin, Qiao, Zhaohui, Mergel, Dieter
Format: Artikel
Sprache:eng ; jpn
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0003-6935
1539-4522
DOI:10.1364/AO.44.003006