Predict VLSI Circuit Reliability Risks Using Neural Network

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Universal journal of engineering science 2014-07, Vol.2 (5), p.116-123
Hauptverfasser:	Kary Chien, Wei-Ting, Kang, Randy, Sii, Howking, Li, Ming
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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