Identifying the Nature of Semiconductor’s Dislocation Density by Positron-Annihilation Spectroscopy Method. Overview

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Nanotechnology Research and Practice 2014-12, Vol.4 (4), p.213-229
Hauptverfasser:	Prokop'ev, Evgeny P., Evstaf'ev, Sergei S., Timoshenkov, Sergei P., Simonov, Boris M., Grafutin, Viktor I., Timoshenko, Aleksei S., Britkov, Igor M., Britkov, Oleg M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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