A new factor for fabrication technologies evaluation for silicon nanowire transistors
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Veröffentlicht in: | Telkomnika 2020-10, Vol.18 (5), p.2597 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 1693-6930 2302-9293 |
DOI: | 10.12928/telkomnika.v18i5.12121 |