A Low Cost C8051F006 SoC-Based Quasi-Static C-V Meter for Characterizing Semiconductor Devices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Telkomnika 2012-12, Vol.10 (4), p.733
Hauptverfasser:	Rahmawati, Endah, Ekawita, Riska, Budiman, Maman, Abdullah, Mikrajuddin, Khairurrijal, Khairurrijal
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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