Effect of Epitaxial Layer Thickness on Built-in Electric Field in Region of AlGaAs/SI-GaAs Interface: A Photoreflectance Study

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Acta physica Polonica, A A, 1997-11, Vol.92 (5), p.935-939
Hauptverfasser:	Ochalski, T.J., Żuk, J., Vlasukova, L.A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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