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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Technometrics 2003-02, Vol.45 (1), p.29-30
Hauptverfasser: Woodall, William H, Koudelik, Rachelle, Tsui, Kwok-Leung, Kim, Seoung Bum, Stoumbos, Zachary G, Carvounis, Christos P
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0040-1706
1537-2723
DOI:10.1198/004017002188618662