Impact of STI Gap-Fill Process Deposited By HDP-CVD in Flash Memory

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2013-10, Vol.MA2013-02 (27), p.2005-2005
Hauptverfasser: Park, Hyoung-sun, Kim, Ki-yong, Hong, Ok-cheon, Kim, Hong-sig, Lee, Haebum, Lee, Kyu-pil, Cho, In-soo, Choi, Byoung-deog
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2151-2043
2151-2035
DOI:10.1149/MA2013-02/27/2005