Towards Robust and Reliable SOEC Cells and Stacks: Understanding Degradation Phenomena Occurring Under High Current Densities

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2013-03, Vol.MA2013-01 (8), p.470-470
Hauptverfasser:	Kiebach, Ragnar, Chen, Ming, Sun, Xiufu, Høgh, Jens, Liu, Yi-Lin, Hjalmarrson, Per, Bentzen, Janet Jonna, Bowen, Jacob, Hauch, Anne, Brodersen, Karen, Argersted, Karsten, Ebbesen, Sune Dalgaard, Hendriksen, Peter Vang, Nielsen, Jens Ulrick
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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