Degradation of p-Channel Low Temperature Poly-Si TFTs with Positive Source Pulse Stress

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2012-06, Vol.MA2012-02 (42), p.3073-3073
Hauptverfasser:	Liu, Han-Wen, Chiou, Si-Ming, Chan, Po-Chun, Kung, Chung-Yuan, Wang, Fang-Hsing, Kang, Tsung-Kuei
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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