Copper-free Through Silicon Via Filling by Ni-W Electrodeposition

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2012-06, Vol.MA2012-02 (34), p.2731-2731
Hauptverfasser: Huang, Hsin-Man, Dow, Wei-Ping, Lin, Jing-Yuan, Chang, Wu-Chung, Lee, Horn-Chin
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2151-2043
2151-2035
DOI:10.1149/MA2012-02/34/2731