$The Characterization Study of Polycrystalline Silicon Grain Growth with Electron Backscatter Diffraction Patterns and Crystallinity$

The Characterization Study of Polycrystalline Silicon Grain Growth with Electron Backscatter Diffraction Patterns and Crystallinity

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2012-06, Vol.MA2012-02 (27), p.2443-2443
Hauptverfasser:	Yang, Sang Ryol, Chang, Jeom-Su, Lim, Jong-Sung, Shin, Jung-Han, Yoo, Young-Sob, Kim, Jin-Gyun, Chung, Byeong-Hong, Choi, Han-Mei, Hwang, Ki-Hyeon, Kang, Ho-Kyu
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!