Mitigating Issues that Impact 4H-SiC Epitaxy for Reliable Power Electronics

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2011-08, Vol.MA2011-02 (33), p.2188-2188
Hauptverfasser:	Gaskill, D. K., Myers-Ward, R.L., Wheeler, V.D., Stahlbush, R.S., Mahadik, N.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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