Phase Change Random Access Memory at 45 nm and Beyond

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2008-08, Vol.MA2008-02 (30), p.2111-2111
Hauptverfasser: Zhao, Rong, Shi, Luping, Chong, Tow Chong, Yang, Hongxin, Tan, Chun Chia, Huang, Jian Cheng, Lim, Kian Guan, Ng, Wai Lek, Ng, Lung Tat, Zhao, Bin
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2151-2043
2151-2035
DOI:10.1149/MA2008-02/30/2111