Extraction of Trap Parameters for High-Κ Gate Dielectric Stacks

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2008-08, Vol.MA2008-02 (25), p.1931-1931
Hauptverfasser:	Rawat, S., Kar, Samares
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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