Charge Capture Kinetics of Nitride Trap in Oxide-Nitride-Oxide(ONO) Structures by Deep Level Transient Spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Meeting abstracts (Electrochemical Society) 2006-02, Vol.MA2005-02 (13), p.526-526
Hauptverfasser:	Cho, Hoon Young, Park, Chan Jin, Oh, Hyung Taek, Kwak, Dong Wook, Lee, Youn Hwan, Yang, Woo Choel, Kim, Chung Woo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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