Advanced Interconnects: Materials, Processing, and Reliability

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:ECS journal of solid state science and technology 2015-01, Vol.4 (1), p.Y1-Y4
Hauptverfasser: Baklanov, Mikhail R., Adelmann, Christoph, Zhao, Larry, De Gendt, Stefan
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2162-8769
2162-8777
DOI:10.1149/2.0271501jss