Introduction of an Electroless-Plated Ni Diffusion Barrier in Cu/Sn/Cu Bonding Structures for 3D Integration

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 2012-01, Vol.159 (2), p.H85-H89
Hauptverfasser: Lee, Byunghoon, Jeon, Haseok, Kim, Soonjae, Kwon, Kee-won, Kim, Jong-Woong, Lee, Hoo-jeong
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/2.007202jes