Effects of N2O Postdeposition Annealing on Metal-Organic Decomposed CeO2 Gate Oxide Spin-Coated on GaN Substrate

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of the Electrochemical Society 2011, Vol.158 (4), p.H423
Hauptverfasser:	Quah, H. J., Cheong, K. Y., Hassan, Z., Lockman, Z.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Schreiben Sie den ersten Kommentar!