Materials Engineering for Future Interconnects: “Catalyst-Free” Electroless Cu Deposition on Self-Assembled Monolayer Alternative Barriers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 2010, Vol.157 (1), p.D74
Hauptverfasser: Armini, S., Maestre Caro, A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
DOI:10.1149/1.3258026