Temperature-Dependent Biaxial Compressive Strain Effect on p-MOSFETs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Electrochemical and solid-state letters 2009, Vol.12 (2), p.H32
Hauptverfasser:	Kuo, Yuan-Jui, Chang, Ting-Chang, Dai, Chin-Hao, Chen, Shih-Ching, Lu, Jin, Ho, Sz-Han, Chao, Chien-Hsiang, Young, Tai-Fa, Cheng, Osbert, Huang, Cheng-Tung
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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