The Influence of Ambient Temperature on the Forward-Bias Electrical Characteristics of p-n Heterojunction and Homojunction Interface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of the Electrochemical Society 2007, Vol.154 (5), p.H365
1. Verfasser:	Tan, Shih-Wei
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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